PICTS ve PL Yöntemleri ile Yar iletken Yap lar n ncelenmesi

Bu çal smada, GaInNAs / GaAs katk s z tekli ve çoklu kuantum kuyulu ve modülasyon katk l üçlü kuantum kuyulu seyreltik nitratl yar iletkenlerdeki derin tuzak seviyeleri "Is kla Uyar lan Ak m Transiyent Spektroskopisi-Photo-Induced Current Transient Spectroscopy-PICTS" yöntemi kullan larak incelenmistir. Bu yöntem ile s kla uyar mdan sonraki ak m bozulma (decay) egrilerinin s cakl kla degisimlerinden elde edilen PICTS sinyallerinden yararlan larak derin seviyelerin aktivasyon enerjileri (Ea), yakalama tesir kesitleri (s) belirlenmistir. Ayr ca bu örneklerin kontak kalitesini belirlemek için I-V karakteristigine bak lm st r. Is l isleme tabi tutulmus ve tutulmam s katk s z tekli ve çoklu kuantum kuyulu yap lar için yap lan PICTS ölçümlerinde bulunan aktivasyon enerjileri ve yakalama tesir kesitleri k yaslan p tavlaman n örnekler üzerindeki etkisi incelenmistir. Is l isleme tabi tutulmus modülasyon katk l örnek olmad g için, sonuçlar sadece s l isleme tabi tutulmam s modülasyon katk l örnek için elde edilmistir. Bu yüzden bu örnek için sadece derin seviyelerin aktivasyon ve yakalama tesir kesitleri elde edilmistir. Elde edilen sonuçlar literatürle k yaslanarak tart s lm st r.