Constrained Deformation of Materials

Constrained Deformation of Materials

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Shen Y.-L.
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781441963116
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. června 2024
3 949 Kč
Běžná cena: 4 388 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné

Podrobné informace

"Constrained Deformation of Materials: Devices, Heterogeneous Structures and Thermo-Mechanical Modeling" is an in-depth look at the mechanical analyses and modeling of advanced small-scale structures and heterogeneous material systems. Mechanical deformations in thin films and miniaturized materials, commonly found in microelectronic devices and packages, MEMS, nanostructures and composite and multi-phase materials, are heavily influenced by the external or internal physical confinement. A continuum mechanics-based approach is used, together with discussions on micro-mechanisms, to treat the subject in a systematic manner under the unified theme. Readers will find valuable information on the proper application of thermo-mechanics in numerical modeling as well as in the interpretation and prediction of physical material behavior, along with many case studies. Additionally, particular attention is paid to practical engineering relevance. Thus real-life reliability issues are discussed in detail to serve the needs of researchers and engineers alike.
EAN 9781441963116
ISBN 1441963111
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 19. srpna 2010
Stránky 281
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Shen Y.-L.
Ilustrace IX, 281 p.
Edice 2010 ed.