Study on Yield Related Traits in Wheat

Study on Yield Related Traits in Wheat

AngličtinaMěkká vazba
Khan, Obaidullah
LAP Lambert Academic Publishing
EAN: 9783659489051
Na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. května 2024
1 453 Kč
Běžná cena: 1 614 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
EAN 9783659489051
ISBN 3659489050
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel LAP Lambert Academic Publishing
Datum vydání 30. listopadu 2013
Stránky 100
Jazyk English
Rozměry 229 x 152 x 6
Sekce General
Autoři Khan, Obaidullah