Reliability, Yield, and Stress Burn-In

Reliability, Yield, and Stress Burn-In

AngličtinaPevná vazba
Way Kuo
Kluwer Academic Publishers
EAN: 9780792381075
Na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. srpna 2026
3 949 Kč
Běžná cena: 4 388 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

The international market is very competitive for high-tech manufacturers to­ day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader­ ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de­ sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur­ ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: • the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in­ dustry, • a study of the relationship between reliability and yield, • the progression toward miniaturization and higher reliability, and • the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.
EAN 9780792381075
ISBN 0792381076
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Kluwer Academic Publishers
Datum vydání 31. ledna 1998
Stránky 394
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Autoři Taeho Kim; Way Kuo; Wei-Ting Kary Chien
Ilustrace XXVI, 394 p.
Edice 1998 ed.
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.