Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Delay Fault Testing for VLSI Circuits

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Krstic Angela
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461375616
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. července 2026
3 526 Kč
Běžná cena: 3 918 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781461375616
ISBN 1461375614
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 12. října 2012
Stránky 191
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Krstic Angela; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Ilustrace XII, 191 p.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
Série Frontiers in Electronic Testing
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.