Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Jian Cheng Zhang
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461359357
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 13. července 2026
2 351 Kč
Běžná cena: 2 612 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781461359357
ISBN 146135935X
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 2. listopadu 2012
Stránky 234
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Jian Cheng Zhang; Styblinski, M.A.
Ilustrace XVII, 234 p.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.