Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer, Berlin
EAN: 9783540372363
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. července 2026
2 351 Kč
Běžná cena: 2 612 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.
EAN 9783540372363
ISBN 3540372369
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer, Berlin
Datum vydání 3. srpna 2006
Stránky 939
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Germany
Sekce Professional & Scholarly
Ilustrace XXI, 939 p.
Editoři de Ridder, Dick; Fred Ana; Kwok, James T.; Roli Fabio; Yeung Dit-Yan
Edice 2006 ed.
Série Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.