Statistical Regression with Measurement Error

Statistical Regression with Measurement Error

AngličtinaPevná vazba
Cheng Chi-Lun
John Wiley & Sons Inc
EAN: 9780470711064
Na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 13. srpna 2026
1 862 Kč
Běžná cena: 2 069 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.
EAN 9780470711064
ISBN 047071106X
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel John Wiley & Sons Inc
Datum vydání 26. února 1999
Stránky 282
Jazyk English
Rozměry 241 x 166 x 23
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Cheng Chi-Lun; Van Ness, John W.
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.