Advanced Techniques for Assessment Surface Topography

Advanced Techniques for Assessment Surface Topography

AngličtinaMěkká vazba
Blunt Liam
Elsevier Science & Technology
EAN: 9781903996119
Titul je vyprodán u vydavatele, prodej skončil
Neznámé datum dodání
4 779 Kč
Běžná cena: 5 310 Kč
Sleva 10 %
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781903996119
ISBN 1903996112
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Elsevier Science & Technology
Datum vydání 1. června 2003
Stránky 340
Jazyk English
Rozměry 297 x 210
Země United Kingdom
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Blunt Liam; Jiang Xiang
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.