Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

NěmčinaEbook
Baumann, Peter
Springer Fachmedien Wiesbaden
EAN: 9783658409579
Dostupné online
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Podrobné informace

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

EAN 9783658409579
ISBN 3658409576
Typ produktu Ebook
Vydavatel Springer Fachmedien Wiesbaden
Datum vydání 1. května 2023
Jazyk German
Země Uruguay
Autoři Baumann, Peter
Série Computer Science and Engineering (German Language)
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