Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Chen Yen-Wei
Springer, Berlin
EAN: 9783031598104
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 4. září 2026
3 761 Kč
Běžná cena: 4 179 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9783031598104
ISBN 3031598105
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Springer, Berlin
Datum vydání 31. května 2024
Stránky 119
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Switzerland
Autoři Chen Yen-Wei; Jain, Rahul Kumar; Ruan, Xiang
Edice 2024 ed.
Série Intelligent Systems Reference Library
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.