Designer's Guide to Testable Asic Devices

Designer's Guide to Testable Asic Devices

AngličtinaPevná vazba
Needham, Wayne M.
Kluwer Academic Publishers Group
EAN: 9780442002213
Na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. srpna 2026
3 949 Kč
Běžná cena: 4 388 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9780442002213
ISBN 0442002211
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Kluwer Academic Publishers Group
Datum vydání 10. ledna 1991
Stránky 284
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Netherlands
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Needham, Wayne M.
Ilustrace XIV, 284 p.
Edice 1991 ed.
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.