Advances in X-Ray Analysis

Advances in X-Ray Analysis

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Newkirk John B.
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781468478372
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. srpna 2026
1 175 Kč
Běžná cena: 1 306 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses­ sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.
EAN 9781468478372
ISBN 1468478370
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 12. června 2012
Stránky 558
Jazyk English
Rozměry 254 x 178
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Mallett Gavin R.; Newkirk John B.
Ilustrace IX, 558 p. 220 illus.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1967
Série Advances in X-Ray Analysis
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.