Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Goldstein, Joseph
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461349693
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. srpna 2026
2 586 Kč
Běžná cena: 2 873 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781461349693
ISBN 1461349699
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 31. května 2013
Stránky 689
Jazyk English
Rozměry 254 x 178
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Echlin Patrick; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Lifshin Eric; Lyman Charles E.; Michael J.R.; Newbury Dale E.; Sawyer, Linda
Ilustrace XIX, 689 p.
Edice Third Edition 2003
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.