Reliable Knowledge Discovery

Reliable Knowledge Discovery

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781489995322
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. srpna 2026
5 384 Kč
Běžná cena: 5 982 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Reliable Knowledge Discovery focuses on theory, methods, and techniques for RKDD, a new sub-field of KDD. It studies the theory and methods to assure the reliability and trustworthiness of discovered knowledge and to maintain the stability and consistency of knowledge discovery processes. RKDD has a broad spectrum of applications, especially in critical domains like medicine, finance, and military.

Reliable Knowledge Discovery also presents methods and techniques for designing robust knowledge-discovery processes. Approaches to assessing the reliability of the discovered knowledge are introduced. Particular attention is paid to methods for reliable feature selection, reliable graph discovery, reliable classification, and stream mining. Estimating the data trustworthiness is covered in this volume as well. Case studies are provided in many chapters.

Reliable Knowledge Discovery is designed for researchers and advanced-level students focused on computer science and electrical engineering as a secondary text or reference. Professionals working in this related field and KDD application developers will also find this book useful.

EAN 9781489995322
ISBN 1489995323
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 12. dubna 2014
Stránky 310
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Ilustrace XVIII, 310 p.
Editoři Dai Honghua; Liu James N. K.; Smirnov Evgueni
Edice 2012 ed.
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.