Artificial Intelligence Approach to Test Generation

Artificial Intelligence Approach to Test Generation

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Singh Narinder
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461291831
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. srpna 2026
2 351 Kč
Běžná cena: 2 612 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781461291831
ISBN 1461291836
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 5. října 2011
Stránky 194
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Singh Narinder
Ilustrace XIV, 194 p.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1987
Série Springer International Series in Engineering and Computer Science
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.