Infrared Characterization For Microelectronics

Infrared Characterization For Microelectronics

AngličtinaPevná vazba
Lau, Wai Shing
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
EAN: 9789810223526
Skladem u distributora
Předpokládané dodání v pondělí, 22. června 2026
1 134 Kč
Běžná cena: 1 260 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Most of the books on infrared characterization are for applications in chemistry and no book has been dedicated to infrared characterization for microelectronics. The focus of the book will be on practical applications useful to the production line and to the research and development of microelectronics. The background knowledge and significance of doing a particular type of infrared measurement will be discussed in detail. The principal purpose of the book is to serve as a useful handbook for practising engineers and scientists in the field of microelectronics.
EAN 9789810223526
ISBN 9810223528
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Datum vydání 4. října 1999
Stránky 172
Jazyk English
Země Singapore
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Lau, Wai Shing
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.