Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

AngličtinaMěkká vazba
Lyman Charles E.
Springer Science+Business Media
EAN: 9780306435911
Na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 13. července 2026
1 977 Kč
Běžná cena: 2 197 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9780306435911
ISBN 0306435918
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer Science+Business Media
Datum vydání 31. srpna 1990
Stránky 407
Jazyk English
Rozměry 244 x 170
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Armstrong, John; Echlin Patrick; Fiori Charles; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Lifshin Eric; Lyman Charles E.; Newbury Dale E.; Peters, Klaus-Rudiger; Romig Jr., Alton D.; Williams David B.
Ilustrace XI, 407 p.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1990
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.