Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications

Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Solanki, Vanarajsinh
LAP Lambert Academic Publishing
EAN: 9786200247247
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. srpna 2026
1 056 Kč
Běžná cena: 1 173 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This book focus upon AFM working principle, its different modes (i.e., contact, non-contact and tapping modes), analysis of some AFM result and few applications also. this book also underline the features of AFM as high versatile and useful morphological tool to scan a large variety of surfaces, with a planar resolution ranging from nano -meter sclae down to atomic scale. We hope this book may helpful to researcher and student to understand the basic concept of AFM as well as performing with it for different kind of samples.
EAN 9786200247247
ISBN 6200247242
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel LAP Lambert Academic Publishing
Stránky 60
Jazyk English
Rozměry 220 x 150
Autoři Dasadia, Abhay; Mishra, Pramita; Solanki, Vanarajsinh
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na [email protected], rádi Vám ji poskytneme.