Reliability, Yield, and Stress Burn-In

Reliability, Yield, and Stress Burn-In

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Way Kuo
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461375968
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. srpna 2026
3 526 Kč
Běžná cena: 3 918 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné
EAN 9781461375968
ISBN 1461375967
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 14. března 2014
Stránky 394
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Autoři Taeho Kim; Way Kuo; Wei-Ting Kary Chien
Ilustrace XXVI, 394 p.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce jsou dostupné zde.