Výsledky vyhledávání

Autor: Wang Laung-Terng
System-on-Chip Test Architectures

System-on-Chip Test Architectures

Wang Laung-Terng
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Elsevier Science & Technology
ISBN: 9780123739735
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
1 860 Kč -10 %
VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

Wang, Laung-Terng
AngličtinaEbook
Elsevier Science
ISBN: 9780080474793
Dostupné online
Dostupné online
1 812 Kč -10 %
VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

Wang Laung-Terng
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Elsevier Science & Technology
ISBN: 9780123705976
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
1 980 Kč -10 %
System-on-Chip Test Architectures

System-on-Chip Test Architectures

Wang, Laung-Terng
AngličtinaEbook
Elsevier Science
ISBN: 9780080556802
Dostupné online
Dostupné online
1 710 Kč -10 %