Výsledky vyhledávání

Autor: Strong, Alvin W.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Strong Alvin W.
AngličtinaPevná vazba
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780471731726
Na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
Na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 6. srpna 2026
4 919 Kč -10 %
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Strong, Alvin W.
AngličtinaEbook
WILEY
ISBN: 9780470455258
Dostupné online
Dostupné online
5 608 Kč -10 %