Výsledky vyhledávání

On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS

On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS

Lin, Chin-Hsin
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
LAP Lambert Academic Publishing
ISBN: 9783659308208
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 21. srpna 2026
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 21. srpna 2026
1 441 Kč -10 %