Výsledky vyhledávání

Autor: Pineda de Gyvez, José
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Pineda de Gyvez, José
AngličtinaPevná vazba
Springer
ISBN: 9780792393061
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
2 633 Kč
Bežná cena: 2 925 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
2 925 Kč -10 %
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Gyvez, Jose Pineda de
AngličtinaEbook
Springer US
ISBN: 9781461531586
Dostupné online
2 755 Kč
Bežná cena: 3 061 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Dostupné online
3 061 Kč -10 %
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Pineda de Gyvez, José
AngličtinaMěkká vazba
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781461363835
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
2 633 Kč
Bežná cena: 2 925 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
2 925 Kč -10 %
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sachdev Manoj
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781441942852
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
5 266 Kč
Bežná cena: 5 851 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
5 851 Kč -10 %
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Zjajo Amir
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer
ISBN: 9789402405309
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
1 317 Kč
Bežná cena: 1 463 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
1 463 Kč -10 %
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sachdev Manoj
AngličtinaPevná vazba
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387465463
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
5 266 Kč
Bežná cena: 5 851 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
5 851 Kč -10 %
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Zjajo Amir
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Springer
ISBN: 9789048197248
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
1 317 Kč
Bežná cena: 1 463 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 16. července 2024
1 463 Kč -10 %
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sachdev, Manoj
AngličtinaEbook
Springer US
ISBN: 9780387465470
Dostupné online
5 526 Kč
Bežná cena: 6 140 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Dostupné online
6 140 Kč -10 %
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

Zjajo, Amir
AngličtinaEbook
Springer Netherlands
ISBN: 9789048197255
Dostupné online
1 385 Kč
Bežná cena: 1 539 Kč
Sleva 10 %
(-10 %)
Dostupné online
1 539 Kč -10 %