Damage Prognosis

Damage Prognosis

AngličtinaPevná vazba
John Wiley & Sons Inc
EAN: 9780470869079
Skladem u distributora
Předpokládané dodání v pondělí, 20. května 2024
2 977 Kč
Běžná cena: 3 308 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné

Podrobné informace

Damage prognosis is a natural extension of damage detection and structural health monitoring and is forming a growing part of many businesses.  This comprehensive volume presents a series of fundamental topics that define the new area of damage prognosis.  Bringing together essential information in each of the basic technologies necessary to perform damage prognosis, it also reflects the highly interdisciplinary nature of the industry through the extensive referencing of each of the component disciplines. 

Taken from lectures given at the Pan American Advanced Studies Institute in Damage Prognosis sponsored by the US National Science Foundation in cooperation with Los Alamos National Laboratories, this book will be essential reading for anyone looking to get to grips with the fundamentals of damage prognosis. 

  • Presents the 'ground rules' for Damage Prognosis.
  • Deals with interdisciplinary topics: rotating machines, aerospace structures, automotive components and civil structures.
  • Covers essential technical material: equations, graphs and plots, tables and photographs.
  • Offers additional material from the associated workshop on an active web site.
EAN 9780470869079
ISBN 0470869070
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel John Wiley & Sons Inc
Datum vydání 18. března 2005
Stránky 472
Jazyk English
Rozměry 252 x 175 x 31
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Editoři Farrar Charles R.; Inman Daniel J.; Lopes Junior, Vicente; Steffen Junior, Valder